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Jean-Philippe Brantut, ETH Zurich >>
Sergey Bravyi, IBM Research >>
Yves Delley, ETH Zurich >>
Leonardo DiCarlo, Delft University of Technology >>
Sebastian Diehl, University of Innsbruck >>
Christopher Eichler, ETH Zurich >>
Jerome Faist, ETH Zurich >>
Sergey Frolov, TU Delft >>
Fabian Hassler, RWTH Aachen >>
Sebastian Huber, The Weizmann Institute of Science >>
Fedor Jelezko, University of Ulm >>
Woowon Kang, University of Chicago >>
Corinna Kollath, University of Geneva >>
Alexey Kozikov, ETH Zurich >>
Andrey Lebedev, ETH Zurich >>
Peter Leek, University of Oxford >>
Dietrich Leibfried, NIST Boulder >>
Oskar Painter, Caltech >>
Loren Pfeiffer, Princeton University >>
David Poulin, Université de Sherbrooke >>
Joe Renes, ETH Zurich >>
Christian Roos, Austrian Academy of Sciences, Innsbruck >>
Gian Salis, IBM Research Zurich >>
Christian Schönenberger, University of Basel >>
Andrew Shields, Toshiba Research >>
Jonathan Simon, Harvard/MIT >>
Seigo Tarucha, University of Tokyo >>
Barbara Terhal, RWTH Aachen >>
John Teufel, NIST Boulder >>
Denis Vion, CEA-Saclay >>
Lei Wang, ETH Zurich >>
Jun Ye, JILA, NIST and University of Colorado >>
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